探針臺(tái)3ΜM通用型探針座 創(chuàng)譜儀器

山東創(chuàng)譜光學(xué)儀器有限公司為您提供探針臺(tái)3μm通用型探針座 創(chuàng)譜儀器。產(chǎn)品信息：
★主體材質(zhì)采用航空鋁合金，表面噴砂氧化，較好的機(jī)械性能
★位移部分采用交叉滾珠導(dǎo)軌，穩(wěn)定性
★整體驅(qū)動(dòng)采用進(jìn)口高分辨率微分頭，提高位移精度
★匹配多功能調(diào)節(jié)夾具，可以180°旋轉(zhuǎn)+精密60°定向傾斜，適用于在顯微鏡下定向調(diào)節(jié)探針，不阻擋視野
★底部可調(diào)磁性底座，可以通過(guò)旋鈕調(diào)節(jié)磁力的有無(wú)，磁性吸附10kg，保持了扎針?lè)�(wěn)定性
★可以升級(jí)真空吸附，搭配真空泵，7l/min
技術(shù)參數(shù)：
★探針位移行程：xyz三維分別13mm+180°旋轉(zhuǎn)+精密60°角度傾斜可鎖緊
★整體結(jié)構(gòu)外形尺寸：200mm×83mm×82mmlwh
★探針位移精度：3μm
★漏電精度：同軸線纜10pa
進(jìn)口三同軸線纜100fa
★可選接頭：同軸線纜可選擇bnc、鱷魚夾、香蕉插頭、n型、sma等
進(jìn)口三同軸線纜可選擇三同軸接口(triaxial)
★測(cè)量范圍：電流：10pa/100fa-10a
電壓：≤1400v
★適用于r/f量測(cè)、i/o點(diǎn)量測(cè)、直流dc測(cè)試 、晶圓測(cè)試、電阻電壓測(cè)試、太陽(yáng)能電池測(cè)試、光電流測(cè)試、半導(dǎo)體器件分析測(cè)試等
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