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通用原則
1每一種無(wú)損檢測(cè)方法均有其能力范圍和局限性,且應(yīng)-足夠的實(shí)施操作空間。本部分所涉及到的各無(wú)損檢測(cè)方法的能力范圍和局限性見5.2,通常能檢測(cè)的一般缺陷見附錄a(資料性附錄)。
2僅能檢測(cè)表面開口缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法包括滲透檢測(cè)和目視檢測(cè)。摻透檢測(cè)主要用于非多孔性材料;目視檢測(cè)主要用于宏觀可見缺陷的檢測(cè)。
3能檢測(cè)表面開口缺陷和近表面缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法包括磁粉檢測(cè)和渦流檢測(cè)。磁粉檢測(cè)主要用于鐵磁性材料;渦流檢測(cè)主要用于導(dǎo)電金屬材料。
4 可檢測(cè)材料中任何位置缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法包括射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、衍射時(shí)差法超聲檢
測(cè)和x射線數(shù)字成像檢測(cè)。一般而言,超聲檢測(cè)、衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)對(duì)于表面開口缺陷或近表面缺陷的檢測(cè)能力低于磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)或渦流檢測(cè)。
5 為確定承壓設(shè)備內(nèi)部或表面存在的活性缺陷的強(qiáng)度和大致位置,可采用聲發(fā)射檢測(cè)。聲發(fā)
射檢測(cè)需要對(duì)承壓設(shè)備進(jìn)行加壓試驗(yàn),發(fā)現(xiàn)活性缺陷時(shí)應(yīng)采用其他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行復(fù)驗(yàn)。
6僅能檢測(cè)承壓設(shè)備貫穿性缺陷或整體致密性的無(wú)損檢測(cè)方法為泄漏檢測(cè)。
7對(duì)于鐵磁性材料,為檢測(cè)表面或近表面缺陷,應(yīng)優(yōu)先采用磁粉檢測(cè)方法,確因結(jié)構(gòu)形狀等原因不能采用磁粉檢測(cè)時(shí)方可采用其他無(wú)損檢測(cè)方法。
8 當(dāng)采用一種無(wú)損檢測(cè)方法按不同檢測(cè)工藝進(jìn)行檢測(cè)時(shí),如果檢測(cè)結(jié)果不一致,應(yīng)以危險(xiǎn)度大的評(píng)定級(jí)別為準(zhǔn)
9 當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測(cè)方法對(duì)承壓設(shè)備的同一部位進(jìn)行檢測(cè)時(shí),應(yīng)按各自的方法評(píng)定級(jí)別。
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氣泡泄漏檢測(cè)一一直接加壓技術(shù),是通過(guò)將被檢件內(nèi)部直接用氣體加壓,在被檢件外部直接施加檢測(cè)溶液或?qū)⒈粰z件直接浸人溶液的方法,使泄漏氣體通過(guò)液體時(shí)形成氣泡,從而確定被檢件是否泄漏及漏孔的位置。
范圍
本檢測(cè)方法屬于檢測(cè)靈敏度要求不高的粗檢漏方法,一般只確定被檢件是否泄漏而不定量,重慶-,某些情況下也可以定量。
一般要求
概述
本檢測(cè)方法的一般要求除應(yīng)符合 jb/t 4730.部定,還a3.2a35的規(guī)定。
工藝規(guī)程
重要因素包括如下內(nèi)容:
起泡溶液(牌號(hào)或型號(hào)):a)
表面溫度(檢測(cè)期間被檢件的溫度應(yīng)不低于耐壓試驗(yàn)的相關(guān)規(guī)定,檢測(cè)時(shí)的或溫度應(yīng)與檢測(cè)方法相一致 );
表面狀態(tài);
照明條件;
人員技能要求(-時(shí) )
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射線法對(duì)于裂紋的檢測(cè)多數(shù)是比較直觀的,可以解決超聲波檢測(cè)中無(wú)法確定缺陷性質(zhì)的問(wèn)題。射線法檢測(cè)裂紋需要注意以下幾點(diǎn):
(1) x射線檢測(cè)在-穿透力的前提下,盡量遵循低電壓長(zhǎng)時(shí)間原則,以-靈敏度;
(2) γ射線檢測(cè)中應(yīng)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)采用高底片;
(3) 暗室處理中洗片應(yīng)該一定時(shí)間或洗一定片數(shù)后進(jìn)行更換,不能為了節(jié)約成本,-公司,雖然洗片數(shù)量不多,但長(zhǎng)時(shí)間存放后再洗片,影響底片。
tofd和相控陣檢測(cè)
tofd超聲波衍射時(shí)差法和相控陣檢測(cè)也都是超聲波檢測(cè),但tofd與傳統(tǒng)的超聲檢測(cè)區(qū)別是,tofd是用超聲波的衍射波進(jìn)行檢測(cè),超聲波檢測(cè)是用超聲波的反射波進(jìn)行檢測(cè)。衍射波檢測(cè)的特點(diǎn)是:靈敏度高,缺陷定位定深定高準(zhǔn),無(wú)方向性可在任意位置接收,能在一定程度上確定缺陷性質(zhì)
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